测试系统
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产品名称: 测试系统
产品型号: 58601
产品展商: Chroma
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简单介绍
致茂58601测试系统是ㄧ提供高密度高精度多通道SMU，温度控制与可符合不同光电半导体。可供发光二极体，雷射半导体，光电侦测器与其他半导体使用。 每个模组*高可测试80组独立SMU，可提供待测物电流与偏压并量测之。
测试系统
的详细介绍
测试系统 主要特色：
- 适用于烧机与老化测试
- *多达800通道同时测试
- *高达40 安培电流输出
- *高达150度 温度控制
- 操作员利用Carrier放置待测物
- Change Kit 设计供测试种类不同待测物
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烧机-可靠度&老化测试
致茂58601是ㄧ提供高密度高精度多通道SMU，温度控制与可符合不同光电半导体。可供发光二极体，雷射半导体，光电侦测器与其他半导体使用。 每个模组*高可测试80组独立SMU，可提供待测物电流与偏压并量测之。
电流源
每片独立的电流电压卡SMU可提供五种不同的电流等级，由5Amp 到20 与40Amp. 独立的电压量测可供高串联数的待测物测试于高电压等级. 多组的电流源也可藉由并联形式提高电流的输出能力。
高弹性化设计
致茂使Conversion Kit由半导体转换到光电半导体使用。应用Conversion Kit于58601烧机测试可以拥有以下的优点:
- 高密度通道
- 高电流输出
- 光电流监控
- 监控量测光电半导体
- 暗电流量测
- 提供偏压
- 独立电压量测
- Bypass of Failing Devices
- 符合各种雷射光电半导体
高效率运作
- 提供高温控制，降低老化时间与较少的通道，同时可降低成本，提供快速结果
- 高密度设计降低使用空间，优于其他设计
- 通过制造商进行批量测试，Carriers可用于烧机测试与特性测试，软体可主动追踪资料于烧机与特性测试
- 在利用Change kit 的设计，在相同基础设备下可快速切换供不同种待测物使用，待测物降低成本
- 精细的probing 方式可提供次系统与高单价包装待测物
- 热插拔电源模组降低故障机率于MTBF/MTTR测试
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