触控薄膜瑕疵检测系统

触控薄膜瑕疵检测系统主要特色： 适用于ITO (Indium Tin Oxide)薄膜等连续式(Roll to Roll)制程线上即时自动光学检测 配备高解析度线型扫描相机，可检出气泡及刮伤等脏污及瑕疵 使用多支相机同时进行取像，检测速度快 配备位置控制和反馈系统，可得到**及清晰的扫描图像 系统具备定位标靶识别功能、地图对应功能*

Chroma*新一代7505-02触控薄膜瑕疵检测系统适用于ITO (Indium Tin Oxide)薄膜等连续式(Roll to Roll)制程线上即时自动光学检测。主要运用CCD 对电容式触控面板表面进行影像拍摄，为以PC-based架构的线扫描(Line-scan)影像检测系统，应用视觉显像检测核心技术，高感光度线性扫描(Line-scan)摄影机，低像差变形镜头(Lens)，高亮度灯源(Lighting)，高速影像撷取卡(Frame Grabber)等。透过即时的同步触发取像并搭配高速的瑕疵检出判断技术，以及精准的记忆体管控技术，达到高速不中断的连续检测, 进行2D 表面瑕疵分析。