性能特点
■ 测试频率：20Hz～2MHz，分辨率：10mHz步进
■ 基本精度：0.1%
■ 测量速度：200次/s
■ 压电陶瓷、超声波换能器等器件的阻抗分析与测试
■ 具有多参数多频列表扫描功能
■ 测试电平10mV～5V， 1mV步进
■ 320×240点阵大型图形LCD显示
■ 五位读数分辨率
■ 可测量22种阻抗参数组合
■ 四种信号源输出阻抗
■ 10点列表扫描测试功能
■ 内部自带直流偏置源
■ 外置偏流源至40A(选件)
■ 电压或电流的自动电平调整(ALC)功能
■ V、I测试信号电平监视功能
■ 图形扫描分析功能
■ 20组内部仪器设定可供储存/读取
■ 内建比较器,10档分选及计数功能
■ 多种通讯接口方便用户联机使用
■ 2m/4m测试电缆扩展(选件)
■ 中英文可选操作界面
■ 可通过USB HOST 自动升级仪器工作程序
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简介
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TH2826 系列元件测试仪是符合 LXI 标准的新一代阻抗测试仪器，其 0.1% 的基本精度、 20Hz ～ 5MHz 的频率范围可以满足元件与材料的测量要求，可测量低 ESR 电容器和高 Q 电感器的测量。可用于诸如传声器、谐振器、电感器、陶瓷电容器、液晶显示器、变容二极管、变压器等进行诸多电气性能的分析。
TH2826 系列产品是电子元器件设计、检验、质量控制和生产测试强有力的工具。其超 高速的测试速度使其特别适用于自动生产线的点检机，压电器件的频率响应曲线分析等 等。其多种输出阻抗模式可以适应各个电感变压器厂家的不同标准需求。TH2826 系列产品 以其**的性能可以实现商业标准和**标准如 IEC 和 MIL 标准的各种测试。
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应用
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■ 无源元件
电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析
■ 半导体元件
LED驱动集成电路寄生参数测试分析；变容二极管的C-VDC特性；晶体管或集成电路的寄生参数分析
■ 其它元件
印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估
■ 介质材料
塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
■ 磁性材料
铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
■ 半导体材料
半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性
■ 液晶单元
介电常数、弹性常数等C-V特性
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技术参数
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测试参数
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C,L,R,Z,Y,X,B,G,D,Q,θ,DCR
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测试频率
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TH2826A
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20 Hz～2MHz,10mHz步进
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测试信号电平
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f≤1MHz
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10mV～5V,±（10%+10mV）
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f>1MHz
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10mV～1V,±（20%+10mV)
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输出阻抗
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10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω
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基本准确度
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0.1%
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显示范围
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L
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0.0001 uH ～ 9.9999kH
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C
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0.0001 pF ～ 9.9999F
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R,X,Z,DCR
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0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ
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Y, B, G
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0.0001 nS ～ 99.999 S
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D
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0.0001 ～ 9.9999
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Q
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0.0001 ～ 99999
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θ
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-179.99°～ 179.99°
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测量速度
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快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz） 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s
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校准功能
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开路 / 短路点频、扫频清零，负载校准
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等效方式
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串联方式, 并联方式
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量程方式
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自动, 保持
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显示方式
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直读, Δ, Δ%
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触发方式
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内部, 手动, 外部, 总线
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内部直流偏
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电压模式
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-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进
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置源
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电流模式（内阻为50Ω）
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-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进
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比较器功能
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10档分选及计数功能
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显示器
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320×240点阵图形LCD显示
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存储器
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可保存20组仪器设定值
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接口
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USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)
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USB HOST(FAT16 and FAT32 support)
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LAN(LXI class C support)
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RS232C
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HANDLER
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GPIB（选件）
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