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LED 覆晶型全光通量自动测试系统

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产品名称: LED 覆晶型全光通量自动测试系统
产品型号: Model 58173-FC
产品展商: Chroma
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简单介绍

硬体设备 半自动化 LED wafer/chip 点测设备 漏电流测试模组 电源量测单元 光学测试模组 ESD 测试模组 (选配)


LED 覆晶型全光通量自动测试系统  的详细介绍
主要特色:
  • 提供全方位电性测试 (200V/2A) ,可满足HV及HP测试
  • Chroma大面积光侦测器(量测角度可达148度)
  • 半自动精密LED wafer/chip点测设备
  • 特殊无钻孔真空平台设计
  • 特制Edge Sensor具有点测针压稳定,无疲乏与针压变动问题
  • 独特萤幕直觉式调针方式
  • 机械视觉定位系统,缩短人工操作时间
  • Prober与Tester整合,效益大幅提升
  • 自动抽测功能
  • 广泛的芯片尺寸应用(满足Chip Size 7~120 mil测试)
  • 弹性调整的软体操作界面
  • 快速芯片扫描系统
  • 自动破片扫描演算法
  • 遮光罩设计,杜绝背景光干扰
  • 即时显示点测资料分布图

    58173-FC为针对覆晶型(Flip Chip) LED开发的半自 动点测设备。特殊的无钻孔玻璃平台设计使得收光路径上无任何干涉,因而达到更加精 准的量测。

    延用致茂研发的高速精准的LED全光通量的量测 方式 ,这种**的量测方式不仅比传统 方式收集更多的LED部分光通量,也明显的改善 提升了量测准确度。

    在光学量测方面,主波长、峰波长、色温等均可 透过致茂独特的光学设计与元件取得**且稳 定快速之数据;在电性测试方面,58173-FC 则 具备完整之电源量测单元,无论顺向电压、漏电 流、逆向崩溃电压等 LED 电性特性,均可于一 次满足使用者的测试需求。

    58173-FC将Prober和Tester完全整合,搭配弹性 调整的软体操作界面及*佳逻辑演算法使得生产 效益大幅提升 ;完善的量产测试统计报表及分 析工具可以让使用者用轻松掌握生产状况。

  • 完善的量产测试统计报表及分析工具
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