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VLSI 测试系统

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产品名称: VLSI 测试系统
产品型号: Model 3360-D
产品展商: Chroma
产品文档: 无相关文档

简单介绍

Model 3360-D VLSI 测试系统


VLSI 测试系统  的详细介绍
主要特色：
  • 50 MHz 测试频率
  • 32/64 个 I/O 通道
  • 8M (标准) /16M (选购) Pattern 记忆体
  • 弹性化硬体结构
  • 平行测试 : *多 8 DUTs
  • Real Parallel Trim/Match 功能
  • 时序频率测试单位 Timing / Frequency measurement unit (TFMU)
  • 测试程式/pattern 转换器 (V7, V50, SC312, J750)
  • Analog PE card 选配 (16 bits)
  • SCAN 测试 选配 (512M)
  • ALPG 测试 选配供记忆体用
  • STDF 工具支援 (选配)
  • 人性化 Windows XP 操作环境
  • CRAFT C/C++ 程式语言
  • 即时pattern编辑器，含Fail pin/address显示
  • 多样化的测试解析工具 : Shmoo plot, Waveform display, Wafer Map, Pin Margin, Scope tool, Histogram tool and etc.

    The Full Application Functions – Logic, ADDA, LCD, LED, Power, ALPG, Match⋯etc 

     

    3360-D Bridge Test Development to Mass-Production

     

     
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