半导体器件分析仪
如果您对该产品感兴趣的话,可以
产品名称: 半导体器件分析仪
产品型号: B1500A
产品展商: Agilent
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简单介绍
Agilent B1500A 半导体器件分析仪(半导体参数分析仪/半导体表征系统)是器件表征的综合解决方案
半导体器件分析仪
的详细介绍
- 支持基本的电流-电压(IV)和电容-电压(CV)测量以及业界**的快速脉冲 IV/ 快速 IV / 瞬时 IV 测量,具备极高的测量可靠性
- 嵌入式 Windows 7 和功能强大的 EasyEXPERT 软件借助先进的图形用户界面(GUI),可让您执行高效、深入、数据可恢复的器件表征。
- 这款*佳表征解决方案可对器件、材料、半导体、有源/无源元件以及任意电气器件进行各种电气表征和评测。
- 根据您的测试需求,模块化结构可升级至 10 插槽配置。
**的测量能力和极高的测量可靠性
Agilent B1500A 针对基础和**器件表征提供以下功能。
测量功能 |
主要技术指标/特性 |
测量模块 |
电流/电压(IV)测量 |
- 电源和测量范围高达 200 V/1 A
- *低测量分辨率为 0.1 fA / 0.5 µV
- 针对基础和** IV 测量提供点测量、扫描测量等功能
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B1511B /B1511B /B1511B SMU(电源/测量单元) |
准静态 CV(QS-CV) |
- **的准静态电容-电压(QS-CV)测量,具有泄露电流补偿
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采样测量 |
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B1510A/B1511A/B1517A SMU(电源/测量单元) |
脉冲测量 |
低至 500 µs |
- 在 500 µs 脉宽、2 μs 分辨率的条件下执行脉冲测量
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低至 100 ns |
- 适用于脉冲 IV 和瞬时 IV 的超快速 IV 测量功能,例如 NBTI/PBTI、RTN(随机电报信号噪声)等
- 脉冲测量,脉宽为 50 μs
- 电源和测量范围高达 30 V / 1 A(0.1 A 直流)
- 支持示波器视图
- 利用 10 ns 编程分辨率生成波形
- 同时执行高速 IV 测量(200 MSa/s,采样率为 5 ns)
- 10V 峰峰值输出
- 利用动态 SMU 技术,负载线不会影响脉冲 IV 测量的精度
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B1514A 50 µs 脉冲 MCSMU
(中等电流电源/测量单元)
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低至 10 ns |
- 适用于 高 k/SOI 脉冲 IV 的表征解决方案
- 选**冲宽度是 10 ns 至 1 µs,上升和下降时间*小值为 2 ns
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B1542A 10 ns 脉冲 IV 参数测试解决方案
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脉冲生成 |
- 高压输出可达 ±40 V,适用于非易失存储器测试
- 为单通道提供二电平和三电平脉冲
- 利用 10 ns 分辨率灵活地生成任意波形(任意线性波形生成功能)
- 每个模块具有两个通道
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B1525A HV-SPGU(高电压半导体脉冲发生器单元) |
交流阻抗(CV)测量 |
- 交流阻抗测量(C-V、C-f、C-t)
- 频率范围 1 kHz 至 5 MHz
- SMU 提供 25 V 内置直流偏置和 100 V 直流偏置
- SCUU 能够快捷、**地改变 IV 和 CV 自动连接
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B1520A MFCMU(多频率电容测量单元) |
在研发的各个阶段中(从探测到自动化)实现高效、数据可恢复的器件表征
- EasyEXPERT 软件在嵌入式 Windows 7 中运行
- 数百种测量程序库在需要时即可使用(应用测试)
-15 英寸触摸屏支持您在器件表征时采取直观的操作、分析与探测
- 自动数据记录特性支持测试数据和测试条件的恢复,可使您轻松地进行探测
- 利用曲线追踪(旋钮操作)和自动记录特性来实现实时交互表征
-EasyEXPERT 的曲线追踪仪测试模式通过旋钮来控制可变扫描,与传统的曲线追踪仪类似
-示波器视图能够显示施加到器件中的电压和电流波形,从而帮助用户优化测试条件、观察器件的瞬时现象
- 利用便捷的在线/离线测试环境完成测试开发与分析,从而*大限度地发挥仪器效用