光电组件晶圆点测系统
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产品名称: 光电组件晶圆点测系统
产品型号: 58635-LN
产品展商: Chroma
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简单介绍
依据ISO/IEC标准
*大可测试6吋晶圆
宽广的测试范围与高精准温度控制
同时支持Pulse与CW模式操作
LIV量测 : Model 58635-L
近场量测 : Model 58635-N
远场量测 : Model 58635-F
支持Multisite测试
光电组件晶圆点测系统
的详细介绍
产品特色
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依据ISO/IEC标准
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*大可测试6吋晶圆
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宽广的测试范围与高精准温度控制
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同时支持Pulse与CW模式操作
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LIV量测 : Model 58635-L
近场量测 : Model 58635-N
远场量测 : Model 58635-F
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支持Multisite测试
随着光电组件的技术越趋成熟，应用也越来越广泛。其中，雷射二极管 (Laser Diode) 除通讯应用外，也朝消费性应用扩展。因应此全新市场，致茂电子藉由多年累积之光电量测技术，开发专为消费性应用之光电组件晶圆点测系统Model 58635系列机种。
58635系列*大可测试6吋晶圆，并搭配致茂电子之精密测试仪器设备，如电流源与温度控制器，能满足雷射二极管测试之严苛要求，雷射二极管相关光电特性参数随温度变化而有所变异，58635系列机种精准之温度控制，能提供稳定、准确之量测数值。
Model 58635系列因应不同测试需求，共包含3机种：58635-L，58635-N，以及 58635-F。
LIV量测系统
致茂电流源提供准确稳定之电流源以及电压量测，搭配积分球与光谱仪，提供准确之光功率与波长量测。藉由58635-L完整之软件功能，所有LIV与波长之相关参数均能在此量测。
近场量测系统
58635-N参照ISO关于雷射近场量测之相关规范，对于雷射二极管之光束传播比例 (Beam Propagation Ratio)或光束质量 (Beam Quality) 之相关参数，提供精准快速之量测。
远场量测系统
58635-F针对雷射二极管之远场光学特性进行测量，诸如雷射之发光角度。另参照IEC人眼**相关规范，58635-F能于远场找寻光束*强之处，从而判断是否符合人眼**相关规范。
应用范围
