VLSI 测试系统
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产品名称: VLSI 测试系统
产品型号: 3380
产品展商: Chroma
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简单介绍
50/100 MHz 测试频率
1024 I数字信道管脚 (*高1280数字信道管脚)
高达1024 sites 并行测试
32/64/128 pattern 内存
16M capture memory per pin
多样化 VI 电源
弹性化硬件架构 (可互换式 I/O, VI, ADDA)
Real parallel trim/match 功能
时序频率测试单位 (TFMU)
高速时序测试单位 (HSTMU)
支持STDF工具
测试program/pattern转换器 (J750, D10, S50/100, E320, SC312,V7, TRI-6036等)
AD/DA功能板卡 (可选配)
SCAN向量存储深度(*高 2G bits/chain) (可选配)
ALPG 测试功能可供内存IC用 (可选配)
CRAFT C/C++ 程序语言
软件接口与
VLSI 测试系统
的详细介绍
产品特色
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50/100 MHz 测试频率
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1024 I数字信道管脚 (*高1280数字信道管脚)
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高达1024 sites 并行测试
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32/64/128 pattern 内存
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16M capture memory per pin
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多样化 VI 电源
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弹性化硬件架构 (可互换式 I/O, VI, ADDA)
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Real parallel trim/match 功能
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时序频率测试单位 (TFMU)
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高速时序测试单位 (HSTMU)
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支持STDF工具
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测试program/pattern转换器 (J750, D10, S50/100, E320, SC312,V7, TRI-6036等)
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AD/DA功能板卡 (可选配)
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SCAN向量存储深度(*高 2G bits/chain) (可选配)
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ALPG 测试功能可供内存IC用 (可选配)
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CRAFT C/C++ 程序语言
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软件接口与3380P/3360P相同
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人性化的Windows 7操作系统
为因应未来IC芯片脚位数更多、速率更高、整合功能更为复杂的发展驱势,Chroma以此发展方向提供新一代3380系列VLSI测试机台,包含 3380D、380P、3380机型,根据不同的脚位数或同测能力(Parallel Test),提供需求与成本效益兼具的测试解决方案。
此系列机型之一的VLSI测试系统3380,具有*高1280 I/O pins、256 VI、弹性化架构、以及完整选项功能板(ADDA/Hi-voltage DPS)等特色;可符合高同测的市场驱势,具备1024 I/O pin可同测1024个芯片的能力。除了独特的4-wire高密度IC电源(VI source)外,弹性化可调整的架构还可提供Mini&Macro LED驱动IC、CMOS影像传感器(CIS)、及3D影像测试等解决方案;以利涵盖更广泛的IC测试功能与应用范围。
3380 VLSI测试系统可无缝接轨3380D(256pins)与3380P(512pins),以因应更高的产能需求。3380系列VLSI测试系统无论在装机、稳定度、友善使用接口、及成本效益上,长期以来皆已于中国市场获得广泛印证。
应用范围
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微控制器单元 (MCU)
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ADC/DAC混和讯号IC
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逻辑IC
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ADDA
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ALPG
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Smart Card
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Mini&Macro LED驱动IC
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CMOS影像传感器 (CIS)
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电源IC (Class D IC)
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消费性IC
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LED驱动IC