双用单站测试分类机
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产品名称: 双用单站测试分类机
产品型号: 3110
产品展商: Chroma
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简单介绍
双用单站测试分类机
适用于终端测试或系统功能测试
自动进料出料舱的配置及依测试结果自动分类的功能
测头内建气室，可吸收及减缓下压触力的冲击
智能型的载盘IC残留侦测
可选配的三温控制系统 (Standard: -40℃~135℃, Option: -55℃~150℃)
可选配的高功率冷却系统
理想的产品工程或研发实验设备机，可自动搜集与分析测试、实验结果的数据
双用单站测试分类机
的详细介绍
产品特色
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双用单站测试分类机
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适用于终端测试或系统功能测试
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自动进料出料舱的配置及依测试结果自动分类的功能
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测头内建气室，可吸收及减缓下压触力的冲击
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智能型的载盘IC残留侦测
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可选配的三温控制系统 (Standard: -40℃~135℃, Option: -55℃~150℃)
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可选配的高功率冷却系统
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理想的产品工程或研发实验设备机，可自动搜集与分析测试、实验结果的数据
3110是一台双用单站的Pick&Place测试分类机，支持各种不同类型封装的芯片，如BGA, μBGA, QFP系列, QFN, Flip-Chip, TSOP等。此分类机运用Pick&Place技术,将待测芯片由进料舱移至测试区，再依测试结果进行分类。3110不但适用于系统功能检测，也同时具备终端电性测试的能力。可综合各组件的整体效能并执行测试系统上的所有测试程序，旨在提供一个全能的解决方案。
支持的芯片尺寸从3x3mm到55x55mm，配备有自动进出料分类舱及手动分类盘，可*优化工程测试的实验数量。简易操作的操控画面，及适配性高的Testers连接接口，大幅提升机台的使用率及共享性。除此之外，它能针对不同的测试环境条件，提供数个温控系统的选择，如三温控制系统、高功率冷却系统等，测试的环境温度可设置于常温、高温或低温。
Chroma温控解决方案
三温变温控制
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Temperature accuracy: ±2℃
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Device temperature feedback (Thermocouple/RTD/Thermistor)
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PWM TE Power Control
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Die force control
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Modularized dry air chamber
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Water chiller
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Dry air supplier
主动热控模块 (ATC)
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Temperature accuracy: ±2℃
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Test arm all in one
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Device temperature feedback
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PID Ramp Control (with auto-tuning capability)
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PWM TE Power Control
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Die force control
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Closed-loop cooling system (no external piping)
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Chamber-less
高解热温控模块 (PTC)
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Temperature range: <85℃ (up to 300W dissipation)
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Closed-loop cooling system (no external piping)
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Test arm all in one
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Die force control
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Neither water chiller nor dry air supplier
